日本製箔株式会社


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低粗度圧延銅箔 ES

特徴 仕様 用途 特性


長年培った高度な圧延技術により、表面粗度が極めて小さい圧延銅箔を開発いたしました。


低粗度圧延銅箔 ES



特徴

  • 表面粗さ Rz 0.4 μm (表面粗さ計)を実現いたしました。
  •  
  • ファインパターン回路に適しています
  • 。  
  • GHz高周波に対応した、表皮効果の影響を受けにくい回路パターンに適しています。




仕様

材質 タフピッチ銅
厚さ 12〜35 μm
250〜650mm
表面処理 箔単体でご提供いたしますが、粗化処理等の表面処理が必要な場合には別途ご相談下さい。





用途

ファインパターン用・高周波用プリント配線板、 その他



特性

機械的・電気的特性 (12μm厚)

項目 代表値
引張り強さ  常 態 (MPa) 450
伸 び 常 態(%) 1.4
電気伝導度(%IACS) 101

表面粗度

試料 SRM(表面粗さ計)による AFMによる
Rz Ra Rz Ra
ES箔 0.4 0.05 0.24 0.13
弊社従来圧延銅箔 0.7 0.09 0.40 0.31
電解銅箔例 M面 1.5 0.27 1.2 0.26
電解銅箔例 S面 1.8 0.33 1.3 0.27
測定条件 触針先端半径  2 μm
測定長さ    0.8 mm
送り速度  0.1 mm/s
カットオフ   0.25 mm
探針先端半径 0.05 μm
測定長さ   1.0 mm
送り速度  0.67 mm/s
カットオフ   0.32 mm
表面写真        表面形状      軟化特性

各値は代表値であり,規格値ではありません.




表面写真(SEM像)

ES2020μm ES

Rz 0.4μm (SRM)
弊社従来圧延銅箔2020μm (比較)
弊社従来圧延銅箔

Rz 0.7μm (SRM)
電解銅箔例 M面2020μm (比較)
電解銅箔例 M面

Rz 1.5μm (SRM)
電解銅箔例 S面2020μm (比較)
電解銅箔例 S面

Rz 1.8μm (SRM)

注) Rzは表面粗さ計SRMによる測定値



表面形状(AFM像)

ESES
ES 3
ES

Rz 0.24μm (AFM)

(比較)弊社従来圧延銅箔(比較)弊社従来圧延銅箔
(比較)弊社従来圧延銅箔 3
(比較) 弊社従来圧延銅箔

Rz 0.40μm (AFM)

(比較)電解銅箔例 M面(比較)電解銅箔例 M面
(比較)電解銅箔例 M面 3
(比較) 電解銅箔例 M面

Rz 1.2μm (AFM)

(比較)電解銅箔例 S面(比較)電解銅箔例 S面
(比較)?電解銅箔例 S面 3
(比較) 電解銅箔例 S面

Rz 1.3μm (AFM)


注) RzはAFMによる測定値




軟化特性

グラフ:引張り強さとアニーリング温度との関係

ES箔における引張り強さとアニーリング温度との関係
加熱時間 : 1800 s

グラフ:伸びとアニーリング温度との関係

ES箔における伸びとアニーリング温度との関係
加熱時間 : 1800 s


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